Difracción de rayos X (XRD)

La difracción de rayos X es una técnica no destructiva utilizada para analizar la estructura cristalina de películas delgadas. La técnica funciona haciendo brillar un haz de rayos X sobre una película, que difracta los rayos X en un ángulo específico. A continuación, se analiza el patrón de difracción para determinar la estructura cristalina, el tamaño de los microcristales y la orientación de la película.

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