Microscopía electrónica de transmisión (TEM)

TEM es una técnica de imagen de alta resolución utilizada para analizar la microestructura interna de películas delgadas. La técnica funciona transmitiendo un haz de electrones a través de una sección delgada de la película y analizando el patrón de difracción de electrones resultante. TEM proporciona información sobre la estructura cristalina, los defectos y los límites de grano de la película.

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